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熱電參數測試系統

產品型號：Namicro-III 型
產品代碼：
產品價格：
折扣率： 0
最后更新：2014-07-04
關注度：2616
生產企業：武漢嘉儀通科技有限公司

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產品詳細介紹   武漢嘉儀通科技有限公司是主要從事高端新材料分析儀器研發、生產、銷售為一體的高技術企業。公司長期專注于新材料分析和檢測領域，有一整套成熟的分析、檢測方案，堅持以技術創新為客戶不斷創造價值。

   本公司研發的Namicro-III 型熱電參數測試系統采用準動態法（具有專利技術）和四探針法分別測量樣品的塞貝克系數和電阻率。

   1、動態法測量塞貝克系數，避免了傳統靜態測量法在溫差測量方面的系統誤差，測量更準確。

   2、電阻率測量和塞貝克系數測量不共用電壓探針，避免出現微型熱電偶斷裂失效的問題。

   3、軟件界面友好，操作方便，高度自動化。既可以全自動測量，也支持半自動和手動采集測量，全自動測試時，只需設置起始溫度、終了溫度以及測試步長三個值即可，溫度曲線設置大為簡化。

技術參數

溫度范圍 RT~ 800 ℃
溫控方式 PID 程序控制
真空度         1~50 Pa
測試氣氛真空
測量范圍塞貝克系數： S ≥  8 μV/K；

                電阻率：0.1 μΩm ~ 100 kμΩ·m

分辨率         塞貝克系數：0.05μV/K；

                電阻率： 0.05 μΩ·m

相對誤差精度塞貝克系數≤ 6%；

                電阻率≤ 5%

樣品尺寸 1) 塊體樣品：長條形，長×寬：( 2~5)× (2~5)mm ；高度：12~ 18mm
                2) 薄膜樣品：長方形，長≥23mm  寬≥28 mm

                                                          ————  武漢嘉儀通科技

武漢嘉儀通科技有限公司

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加入時間：2014-01-03

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