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產(chǎn)品詳細介紹高溫真空探針臺KT-Z1604TZ
真空探針臺可實現(xiàn)高真空環(huán)境下的高溫及低溫電學性能測量，真空腔一體成型，具有設計合理，真空度穩(wěn)定，溫控精度及機械精度高等特點；根據(jù)測試溫度范圍不同，可單選高溫或低溫等相應組件，溫度可達到400℃，低溫部分采用液氮或液氦冷卻組件，溫度可低至-196℃，；真空系統(tǒng)可選機械泵或分子泵系統(tǒng)，真空度可達到10-3Torr或10-6Tor。
 
高低溫真空探針臺應用：
可應用于低溫或高溫真空環(huán)境下被測樣品的電學性能測試分析，如：半導體/微電子，電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMS，生物芯片，航空航天等科學研究領域，以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領域。
高溫真空探針臺技術參數(shù)
高溫真空探針臺KT-Z1604TZ參數(shù)
 
真空腔體
腔體材質(zhì)
304不銹鋼
上蓋開啟
鉸鏈側(cè)開
加熱臺材質(zhì)
304不銹鋼
內(nèi)腔體尺寸
φ160x90mm
觀察窗尺寸
Φ70mm
加熱臺尺寸
φ60mm
觀察窗熱臺間距
75mm
加熱臺溫度
﹣196~350℃
加熱臺溫控誤差
±1℃
真空度
機械泵≤10Pa   分子泵≤10-3Pa
允許正壓
≤0.1MPa
真空抽氣口
KF25真空法蘭
氣體進氣口
3mm-6mm卡套接頭
電信號接頭
SMA轉(zhuǎn)BNC X 4
電學性能
絕緣電阻 ≥4000MΩ   介質(zhì)耐壓 ≤500V
探針數(shù)量
4探針
探針材質(zhì)
鎢針  
探針尖
10μm
探針移動平臺
X軸移動行程
30mm    ±15mm
X軸控制精度
≤0.01mm
Y軸移動行程
13mm    ±12.5mm
Y軸控制精度
≤0.01mm
Z軸移動行程
13mm    ±12.5mm
Z軸控制精度
≤0.01mm
電子顯微鏡
顯微鏡類別
物鏡
物鏡倍數(shù)
0.7-4.5倍
工作間距
90mm
相機
sony 高清
像素
1920※1080像素
圖像接口
VGA
LED可調(diào)光源
有
顯示屏
8寸
放大倍數(shù)
19-135倍,視場范圍15×13-2.25×1.7mm，最小可分辨0.08mm
 
高溫真空探針臺使用說明
 
高溫真空探針臺采購須知
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